Con el crecimiento explosivo de los servidores de IA, los embalajes de HBM, los semiconductores de potencia y la localización de equipos relacionados, los materiales cerámicos semiconductores se han convertido en uno de los campos de aplicaciones cerámicas avanzadas de más rápido-crecimiento en los últimos años. Los ejemplos incluyen alúmina y nitruro de aluminio utilizados en embalajes, cerámicas funcionales como termistores NTC/PTC y varistores de ZnO, y cerámicas estructurales de equipos como mandriles electrostáticos (ESC), calentadores, anillos de enfoque y componentes de aislamiento de cámara. El tamaño promedio de las partículas de los polvos iniciales para estos materiales se encuentra principalmente en el rango submicrónico, con una porción considerable en el rango nanométrico (<100 nm). Moreover, most are mixtures with extremely high surface energy, making them difficult to disperse, which in turn leads to significant deviations or even errors in particle size analysis.
Los analizadores láser de tamaño de partículas se utilizaron originalmente como-instrumentos de prueba de polvo de uso general. Sin embargo, con la intensificación de la competencia en la industria y una comprensión más profunda de las aplicaciones por parte de los fabricantes de instrumentos, han surgido técnicas y funciones más especializadas e incluso modelos dedicados para satisfacer mejor las necesidades de los clientes profesionales. Proporcionar-soluciones específicas de la industria para materiales cerámicos semiconductores está altamente alineado con las tendencias del mercado.-Esto se debe, por un lado, a las limitaciones inherentes de los instrumentos de difracción láser y, por otro lado, a la composición compleja y la amplia distribución del tamaño de las partículas de los polvos cerámicos semiconductores. Según el consenso de la industria, sólo alrededor del 10% de los errores de medición se originan en la unidad de detección del instrumento, mientras que más del 90% de los problemas surgen de los pasos de muestreo y dispersión. Además, diferentes materiales tienen distintos índices de refracción y coeficientes de absorción-por ejemplo, la alúmina tiene un índice de refracción de solo 1,76, mientras que el carburo de silicio supera el 2,6, por lo que usar configuraciones de parámetros idénticas para diferentes materiales inevitablemente distorsiona los resultados. Las mediciones del "tamaño límite de las partículas" son otro error común: las partículas extremadamente finas sufren una fuerte caída en la intensidad de la dispersión, mientras que las partículas extremadamente gruesas enfrentan problemas como señales de dispersión concentradas y una resolución insuficiente.